Список форумов   Список форумов  

RIO и его комплектация

Обсуждение работы в LabVIEW с оборудованием

Модераторы: Техподдержка NI, Robert, Модератор

RIO и его комплектация

Сообщение zenner » Сб авг 13, 2011 12:45 am

Цель - построить измерительный стенд для автоматической проверки и испытания электронных SMD карт. Под карты построены жиги, под тест поинты. Сценарий опроса предусматривает последовательное проведение измерений по зонам на соответствие таблично заложенным толерансам результатов измерений. Так же алгоритмам верификации отдельных схем.
На измеряемых картах присутствуют микропроцессоры по тактовой частоте до 30 мГЦ, RF приемники и передатчики от 900 мГЦ до 2,4 гГц. Количество измерений за 1 сеанс до 100, генерируемые сигналы логических уровней от 0 до 3 V, пассивные измерения сопротивлений, конденсаторов и катушек, далеко не полный перечень.
Собственно интересует следующее:
Обладает ли комплект RIO функциональными возможностями дл я решения в.у. задачи, или нужно обращаться к более емким внешним платформам NI (каким). Какими инструментами (набором библиотек) комплектуется RIO и на какой уровень знаний рассчитаны эти коллекции для сборки стенда.
В целом что можно порекомендовать для верного старта, буду благодарен за линки с примерами и комментариями.
zenner
 
Сообщений: 3
Зарегистрирован: Сб авг 13, 2011 12:05 am

Сообщение NI Dan » Пн авг 15, 2011 4:42 pm

Я не совсем представляю, что такое SMD карты, жиги и поинты, но скорее всего Вам стоит обратить внимание на платформу PXIe. Это шасии, в которое вы можете установить необходимые вам измерительные и коммутирующие приборы. Вы сможете протестировать как и микропроцессорные/цифровые, так и аналоговые блоки вашей схемы. Для измерения параметров пассивных компонентов можно использовать такие приборы как PXI-4072. Для тестирования ВЧ до 6 ГГц можно использовать PXIe-5663.

Сылки:
Описание платформы http://sine.ni.com/np/app/main/p/ap/glo ... CI/fmid/3/
PXI-4072 http://sine.ni.com/nips/cds/view/p/lang/en/nid/14222
PXIe-5663 http://sine.ni.com/nips/cds/view/p/lang/en/nid/205592
С уважением,
Денис Банников
Отдел технической поддержки | National Instruments
support.russia@ni.com | (495) 783-68-51 | ni.com/russia
NI Dan
Пользователь
 
Сообщений: 18
Зарегистрирован: Вт май 31, 2011 9:39 am

Сообщение zenner » Пн авг 15, 2011 11:57 pm

Премного благодарен, начну обкуриваться рекомендованным.

По ходу:
SMD - поверхнотный монтаж.
жиги - основание для коммутации проверяемых карт со структуоированными измерительными пробами.
Тест поинты - измерительные точки на карте :wink:
zenner
 
Сообщений: 3
Зарегистрирован: Сб авг 13, 2011 12:05 am

Сообщение Андрей Дубатов » Пт авг 19, 2011 10:29 am

Вообще для более быстрой и грамотной подборки конфигурации я бы рекомендовал Вам обратиться к нам в офис, чтобы в режиме диалога мы смогли обсудить все требования и предложить возможные решения. Связаться с нами Вы можете по телефону (495) 783-68-51
С уважением,
Андрей Дубатов
Отдел технической поддержки | National Instruments | (495) 783-68-51 | ni.com/russia
Андрей Дубатов
Пользователь
 
Сообщений: 18
Зарегистрирован: Пн фев 07, 2011 12:13 pm

Сообщение zenner » Пт авг 19, 2011 11:00 am

Благодарю за предложение, увы не все так просто, все что связано с этой темой, электронные компоненты и схематика, не могут выходить за пределы моей организации, на мне письменная ответственность о неразглашении.
Чем занимаюсь в настоящий момент - определяюсь с платформой сбора данных по шине GPIB , провожу изыскания и разрабатываю прототип
zenner
 
Сообщений: 3
Зарегистрирован: Сб авг 13, 2011 12:05 am


Вернуться в LabVIEW и оборудование National Instruments

Кто сейчас на форуме

Сейчас этот форум просматривают: нет зарегистрированных пользователей и гости: 2