Решения

Электроника

Программно – аппаратный спектрометрический комплекс для контроля толщин пленочных покрытий
Программно – аппаратный спектрометрический комплекс для контроля толщин пленочных покрытий

В докладе рассмотрен спектрометрический комплекс на основе акустооптического монохроматора для контроля толщин пленочных покрытий и его программное обеспечение.

Подробнее
Принципы разработки интеллектуальных измерительных систем на базе LabVIEW
Принципы разработки интеллектуальных измерительных систем на базе LabVIEW

Работа посвящена построению интеллектуальных измерительных систем. Для решения этой задачи разработан протокол информационного взаимодействия узлов и подсистем и организована синхронизация процессов измерений различных параметров. Кроме того, на время перехода к интеллектуальным датчикам требуется поддержка парка датчиков, используемых в настоящее время. Программную составляющую таких систем представляется целесообразным реализовывать в среде графического программирования LabVIEW.  

Подробнее
Моделирование передающего устройства для линии космической радиосвязи в среде AWR Design Suite 10
Моделирование передающего устройства для линии космической радиосвязи в среде AWR Design Suite 10

Работа посвящена решении проблем при создании и последующей работы передатчика в среде AWR Design Suite 10.

Подробнее
Стенд для проведения тестовых испытаний электронных устройств на базе NI PXI и TestStand
Стенд для проведения тестовых испытаний электронных устройств на базе NI PXI и TestStand

Работа посвящена созданию стенда, выполняющего тестирование платы сбора данных NI USB-6009 в связи с наличием в ней необходимых аналоговых и цифровых каналов ввода/вывода.

Подробнее
Стенд проверки жгутов электропроводов и монтажных модулей
Стенд проверки жгутов электропроводов и монтажных модулей

С целью повышения производительности и замены ручного труда автоматикой необходимо разработать и внедрить на производстве современные стенды проверки жгутов электропроводов.

Подробнее
Тестирование мощных полупроводниковых приборов (МПП)
Тестирование мощных полупроводниковых приборов (МПП)

Обеспечение измерения статических параметров мощных диодов, биполярных и полевых транзисторов, а также биполярных транзисторов с изолированным затвором широкой номенклатуры для входного контроля.

Подробнее
Автоматизированная система поиска неисправностей в электронных узлах ПАЦ-74С изделия ПКУЗ 1А
Автоматизированная система поиска неисправностей в электронных узлах ПАЦ-74С изделия ПКУЗ 1А

На приборном заводе (ПЗ) «Сигнал», при изготовлении электронных блоков изделий возникает задача контроля их работоспособности и поиска неисправностей. Необходимо разработать  автоматизированный испытательный стенд для внедрения в уже существующий производственный процесс.

Подробнее
Система технического зрения для бесконтактного измерения геометрических размеров деталей и контроля монтажа печатных плат
Система технического зрения для бесконтактного измерения геометрических размеров деталей и контроля монтажа печатных плат

В докладе рассмотрено применение систем технического зрения для бесконтактного измерения геометрических размеров, контроля и идентификации плоских сложно-профильных изделий, диагностики и контроля монтажа элементов на печатной плате.

Подробнее

Все  

 

 

Решения опубликованы на основании докладов из сборников трудов ежегодной конференции "Инженерные , научные и образовательные приложения на базе технологий National Instruments" с 2011 по 2014 гг.



 

© 2018 National Instruments Russia. All rights reserved.
Яндекс.Метрика